电子显微镜已经成为表征各种材料的有力工具。 它的多功能性和极高的空间分辨率使其成为许多应用中非常有价值的工具。 其中,两种主要的电子显微镜是透射电子显微镜(TEM)和扫描式电子显微镜(SEM)。
一般来说,透射电镜(TEM)的操作更为复杂。 透射电镜(TEM)的用户需要经过强化培训才能操作设备, 在每次使用之前需要执行特殊程序,包括几个步骤以确保电子束对中。那我们在SEM和TEM之间如何做出选择呢?
从所提到的一切来看,显然没有“更好”的技术; 这完全取决于需要的分析类型。 当用户想要从样品内部结构获得信息时,透射电镜(TEM)是zui佳的选择,而当需要样品表面信息时,扫描电镜(SEM)是。 当然,主要决定因素是两个系统之间的巨大价格差异,以及易用性。 透射电镜(TEM)可以为用户提供更多的分辨能力和多功能性,但是它们比扫描电镜(SEM)更昂贵且体型较大,需要更多操作技巧和复杂的前期制样准备才能获得满意的结果。
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